高低溫沖擊試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-2001[1];
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
4. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86;
5. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86;
6. 國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。
技術(shù)參數(shù)
型號(hào)
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WDCJ-162
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WDCJ-340
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WDCJ-500
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WDCJ-010
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工作室尺寸:mm
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450×450×450
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600×600×600
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800×800×800
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1000×1000×1000
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樣品區(qū)尺寸:mm
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300×300×250
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450×450×360
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650×650×500
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850×850×700
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性
能
指
標(biāo)
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溫度范圍
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A:-20℃~200℃
B:-40℃~200℃
C:-60℃~200℃
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溫度波動(dòng)
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高溫室及低溫室均≤±2℃
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樣品區(qū)溫度波動(dòng)
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≤±0.5℃(恒溫時(shí))
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樣品區(qū)承重
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20kg
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30kg
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50kg
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溫度運(yùn)行控制系統(tǒng)
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控制器
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日本進(jìn)口UMC-1300真彩觸摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微電腦集成控制器
韓國(guó)進(jìn)口TEMI880真彩觸摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微電腦集成控制器
(選其一)
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精度范圍
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設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:±0.1℃
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制冷系統(tǒng)
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進(jìn)口德國(guó)谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/原裝法國(guó)“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
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循環(huán)系統(tǒng)
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耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
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溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間
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從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)≤5S
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溫度恢復(fù)時(shí)間
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≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān),既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān))
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溫度沖擊方法
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垂直兩箱法 (兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 )
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以上為標(biāo)準(zhǔn)型試驗(yàn)箱,可根據(jù)用戶的具體要求定做非標(biāo)型
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選購(gòu)高低溫沖擊試驗(yàn)箱要注意五個(gè)方面:沖擊溫度、試驗(yàn)負(fù)載、復(fù)歸時(shí)間、除霜時(shí)間、sensor放置位置。
購(gòu)選時(shí),它們有各自的要求,沖擊溫度是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度大范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的極限溫度;試驗(yàn)負(fù)載直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說來,這個(gè)重量越大越好;它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間。我們常見的規(guī)范約定≤5min。這個(gè)時(shí)間越小越好;除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好。現(xiàn)在有寫廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常理想的。除霜間隔越短說明該設(shè)備的氣密性越差;sensor必須放置在測(cè)試區(qū)內(nèi)部。有些廠家將sensor放置在風(fēng)道內(nèi)部,雖然與測(cè)試區(qū)只有10cm的距離,但是這個(gè)能量差異是相當(dāng)大的。且不能夠真實(shí)反映測(cè)試品表面的溫度變化。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,都會(huì)用到,是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的必不可少的一項(xiàng)測(cè)試箱。